Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)

Strumentazione


Microscopio Elettronico Analitico a Trasmissione JEOL JEM 2010 (JEOL Ltd, Giappone) corredato di sistema analitico X-EDS Oxford Link con detector Pentafet Si(Li), intervallo di sensibilità B - U.

Applicazioni


Il Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) nella configurazione attuale è particolarmente indicato per lo studio e la caratterizzazione dei materiali dal punto di vista morfologico, chimico e strutturale rapportabile alle seguenti aree di studio:

  • biologico
  • polimerico
  • metallico
  • ceramico
  • composito

Sulla base delle tecniche disponibili, i campi di applicazione nei quali l'utilizzo dello strumento diventa di notevole importanza sono:

  • Studio dei materiali, di catalizzatori, di materiali compositi e nano strutturati
  • Difetti in semiconduttori indotti dal processo di fabbricazione
  • Sistemi ceramici
  • Deformazioni plastiche
  • Studio di strutture a strati
  • Trasformazioni di fase
  • Sistemi nanometrici
  • Strutture ordinate nelle leghe
  • Studio di strutture cellulari
  • Valutazione qualitativa e quantitativa del contenuto e del tipo di fibre (amianto, ceramiche, organiche ecc.) in diverse matrici
  • Valutazione e caratterizzazione morfologica e chimica delle nanoparticelle presenti in atmosfera (ambienti di lavoro, emissioni, immissioni, ambienti di vita)
Ultimo aggiornamento 24 Settembre 2015