Microscopia Elettronica

Responsabile
Prof. Gustavo Capannelli
capannel@unige.it


Campi di applicazione

Microscopia elettronica analitica a trasmissione - "HR-TEM analysis"

Microscopia Elettronica Analitica a Trasmissione

JEOL JEM 2010, dalla ditta JEOL Ltd.

  • Risoluzione: puntuale 0,23 nm, reticolare 0,14 nm.
  • Tensione acceleratrice: min. 80KV, max. 200KV
  • Filamento: monocristallo di LaB6
  • Ingrandimenti: min. x2000, max. x1.5*10^6
  • Portacampione: sistema a doppio tilt (30 gradi sui due assi)
  • Diffrazione elettronica: lunghezza della camera da 8 cm a 200 cm per area selezionata, da 4 m a 80 m per alta dispersione
  • Acquisizione dell'immagine: su lastra fotografica 6,5x9 cm;
  • Sistema analitico X-EDS: Oxford Link con detector Pentafet Si(Li), risoluzione 136 eV, range di sensibilità B - U.

Analisi con dimensione di spot elettronico variabile da 0.5 nm a 25 nm.

Mappatura per analisi qualitativa in modalità SemiStem.

Software di gestione X-EDS Link ISIS300.

Nella configurazione attuale la strumentazione permette di eseguire le seguenti osservazioni:

  • Analisi morfologica in modalità TEM Diffrazione elettronica
  • Analisi X-EDS qualitativa e semiquantitativa
  • Studio dei materiali (ceramici, metallici, polimerici e compositi), difetti, fabbricazione in semiconduttori
  • Studio di strutture a strati, sistemi nanometrici, catalizzatori, di strutture cellulari,ecc.

Microscopia Elettronica a Scansione, SEM, con analisi EDS

Leo Stereoscan 440 della ditta LEO Electron Microscopy Ltd

  • Tensione di accelerazione 400-30000 V
  • Filamento W
  • Ingrandimenti massimi effettivi x 120K
  • Risoluzione 5 nm
  • Registrazione immagini su files

Accessori

Sistema EDS Oxford Link con rivelatore al Ge

  • Risoluzione 120 eV
  • Sensibilita' da Z > 5
  • Software per mappatura degli elementi, analisi in linea, analisi quantitativa
  • Rivelatore Backscattering Centaurus
  • Rivelatore Elettroni Secondari

Nella configurazione attuale, le strumentazioni permettono caratterizzazione e studi di ogni tipo quali, ad esempio:

  • analisi morfologica di campioni anche di elevate dimensioni (risoluzione fino a 1 nm);
  • analisi EDS qualitativa, semiquantitativa e quantitativa dei vari elementi;
  • analisi in backscattering e mappatura degli elementi;
  • analisi morfologica e chimica delle superfici dei materiali conduttori o resi tali previa ricopertura con metalli (morfologia) o con carbone (analisi chimica);
  • studio di materiali nano----, nanostrutturati
  • studi ambientali: valutazione e caratterizzazione chimica, morfologica di materiali particolati-----comunque dispersi nell'aria (emissioni, immissioni, ambienti di lavoro e di vita) e nei liquidi (acqua di mare, fiume, acque industriali e potabili).
  • studi ambientali: valutazione e caratterizzazione nanoparticelle comprese fra i 100 e gli 0,2 nm. --- disperse in matrici biologiche, all'interno di altri materiali e nei vari fluidi (aria, acqua, solvente).

Presso il laboratorio sono disponibili tutte le strumentazioni necessarie per la preparazione dei campioni.
Informazioni più dettagliate sono disponibili nella sezione del Laboratorio


Ricercatori

Elenco del personale (ordine alfabetico) Tel. Aree di competenza Email
Capannelli Gustavo P.A. 6197 - 6139 Caratterizzazione e studio di materiali, catalisi eterogenea Capannel@unige.it
Ferrari Fiorenza T.C. 8719 Microscopia SEM fio@chimica.unige.it
Michetti Mauro E.P. 8716 - 8755 Microscopia elettronica michetti@chimica.unige.it
Uliana Claudio E.P. 8716 - 8755 Microscopia elettronica ulia@chimia.unige.it

Risorse Strumentali

Informazioni dettagliate sono disponibili nella sezione strumentazione del Laboratorio.